2 月 26 日至 3 月 2 日，MC2023 汇集了材料科学、生命科学、仪器和方法等各领域的顶尖专家和新兴研究人员。此次活动为探讨当前趋势和探索新发现提供了一个平台。
TESCAN 在会上发表了题为 "电子显微镜和聚焦离子束表征方法在评估电化学材料及其相间物中的作用 "的 60 分钟综合演讲。该演讲强调了 TESCAN 在改进电池材料分析方面的贡献。
此外，我们还在两个展位上展示了 AMBER X 等离子 FIB-SEM，这是分析电池技术的重要工具。AMBER X 配备了集成 ToF-SIMS 解决方案，展示了 TESCAN 在该领域取得的进步。
我们衷心感谢每一位在活动期间来访并与我们互动，探索我们电池技术进步解决方案的人士。
如需深入了解我们的 AMBER X 等离子 FIB-SEM 及其他 TESCAN 解决方案，我们诚邀您访问我们的网站。敬请关注更多有关 TESCAN 近期活动和进展的最新信息！