我们很高兴与大家分享 2023 年 6 月 26 日和 27 日在巴黎举行的锂表征和定量国际研讨会 CQLMNS 2023 的经验。
此次活动召集了对锂元素在宏观和纳米尺度上的局部表征感兴趣的研究人员、工程师和学生。讨论涉及各种固体环境，包括采矿、地质、玻璃、电池等。
在 CQLMNS 2023 中，TESCAN 发挥了重要作用。我们发表了题为"基于 FIB-SEM 的 ToF-SIMS 技术对锂电池材料进行表面和次表面表征 "的 20 分钟科学演讲。在这次演讲中，我们深入探讨了基于 FIB-SEM 的 ToF-SIMS 技术的应用，揭示了对电池进步至关重要的见解。
此外，我们的 10 分钟赞助商演讲还阐明了"锂电池材料综合表征的电子显微镜解决方案 "这一主题。
在我们的展位上，与会者与我们的解决方案进行了互动，并探讨了这些解决方案在未来锂电技术中的潜在应用。我们向所有参加 CQLMNS 2023 并与我们互动的人士致以最诚挚的谢意！
CQLMNS 2023 会议上的热烈讨论和共同奉献精神为我们注入了活力，我们将目光投向了锂技术的进一步发展。
感谢您参与 CQLMNS 2023 的旅程。让我们一起继续创新，塑造锂电技术的未来！
请与 TESCAN 保持联系，了解我们即将举行的活动的更多更新信息！