通过在 FIB-SEM 外部和专用 EXLO 工作站中移除移出装置，消除 TEM 工作流程中的瓶颈问题
加入我们的现场：了解 EXLO 如何改变 TEM 工作流程
日期和时间
2025 年 10 月 14 日星期二上午 7:00（美国东部时间） | 下午 1:00（美国中部时间） | 下午 7:00（北京时间）
2025 年 10 月 14 日星期二下午 2:00（美国东部时间） | 下午 8:00（美国中部时间） | 凌晨 2:00 +1 天（北京时间）
你将学到什么
- EXLO 如何将薄片操作与铣削分离，使 FIB-SEM 仪器专注于高价值工作
- 单个 EXLO 平台如何支持多个 FIB-SEM，以提高吞吐量并降低每个试样的成本
- EXpressLO 带槽栅格和 Aspirato™ 真空辅助转移工具如何确保安全放置和可重复的 TEM 结果
我们的主持人随时准备回答您的问题
Lucille A. Giannuzzi 博士，FAVS、FMSA、FMAS
Giannuzzi 博士是国际公认的聚焦离子束 (FIB) 技术和电子显微镜专家，在推动学术界和工业界的透射电子显微镜 (TEM) 标本制备工作流程方面拥有数十年的经验。她是 EXpressLO（EXLO）技术的发明人，该技术改变了原位抬出技术并加快了标本制备速度。
她是纽约州立大学石溪分校的兼职教授，也是美国真空学会（AVS）、美国显微镜学会（MSA）和美国微分析学会（MAS）的会员。Giannuzzi 博士发表了 100 多篇经同行评审的论文，在 S/TEM 样品制备方面做出了开创性的贡献，她将继续通过自己的创新、教学和在科学界的领导作用塑造这一领域。尝试。
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