网络研讨会说明
在这一环节中，来自 TESCAN 集团的 Daniel Němeček 介绍了一种利用 TESCAN TENSOR 显微镜的前驱辅助电子衍射进行材料分析的创新方法，该方法旨在使纳米级结构分析更加高效和用户友好。
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本次会议介绍了 TESCAN TENSOR 如何克服传统 TEM 显微镜的局限性，因为传统 TEM 显微镜没有针对 STEM 分析应用进行优化。
TESCAN TENSOR 采用以 STEM 为中心的设计，集成了最先进的组件（包括大型直接电子探测器、电子束前驱和双 EDS 探测器），可实现无缝的多模式数据采集、超高真空条件和更高的测量吞吐量。
会议亮点
交互式实时分析：显微镜的单一界面可实现实时数据处理和可视化，将样品分析转化为互动体验，无需单独的 TEM 成像模式。
增强的用户体验：自动系统排列和简化的 STEM 和 4D-STEM 设置可简化工作流程，提供与 SEM 和 FIB/SEM 仪器类似的用户体验。
精度和数据质量：完全集成的光束前驱提高了 4D-STEM 和 3D-ED 结构信息的准确性。
会见发言人
Daniel Němeček 博士是 TESCAN TENSOR 的产品营销经理。Daniel 拥有生物物理学博士学位，在光谱学和显微镜领域拥有 20 多年的经验，曾在学术界和工业界担任研究科学家和电子显微镜设施负责人。