网络研讨会说明
2024 年 12 月 3 日，TESCAN 集团召集材料研究人员和显微镜专家，深入探讨 TESCAN 的 FIB-SEM 解决方案如何提升原子探针断层扫描 (APT) 标本制备的质量和精度。
本次网络研讨会与 卡梅卡仪器公司（Cameca Instruments）合作举办，介绍了在原子尺度上分析材料时的关键因素--减少样品损伤并提供可重现的特定部位结果的先进方法。
主讲人Petr Klímek （TESCAN）和Katherine Rice 博士（Cameca）向与会者介绍了最新的技术和工艺，演示了如何通过精心的制备方法将复杂的材料转化为可用于 APT 的原始标本。
主要亮点：
- APT 准备的精确性：使用 FIB-SEM 制作损伤最小、特定取向的尖端，确保即使是具有挑战性的非导电或异质材料也能设置为最佳 APT 表征。
- 低温制备的进展：管理易受环境因素影响的样品的技术，展示低温工作流程如何在 APT 分析前保持结构完整性。
- 新一代平台：TESCAN AMBER X 2 和 AMBER 2 平台可实现受控的表面细化和温和、清洁的抛光，这对于保护敏感材料和确保最佳 APT 结果至关重要。
- 提高效率和自动化：TESCAN OptiLift™ 等工具有助于精确操作和转移样品，而 FIB-SEM Expert PI 和 Visual Coder 脚本可简化复杂的例程，提高可重复性并加快研究速度。
会见专家：
在连接学术界和工业界方面拥有近十年的经验、 彼得-克里梅克 他在富布赖特大学（Fulbright）的研究背景和产品开发方面的独到见解，为 TESCAN 集团提供了尖端的 SEM 和 FIB-SEM 解决方案，以解决现实世界中的材料科学难题。
凯瑟琳-赖斯博士拥有化学工程博士学位，并曾在 NIST 工作过，她的专业知识涵盖透射 EBSD、纳米粒子合成和原子探针断层扫描。她的实践视角确保了即使是最先进的分析方法，也是以可实现的实验室就绪技术为基础的。