加入我们 悉尼大学 和 TESCAN 探索等离子 FIB-SEM 如何从大规模三维表征工具发展成为一种通用解决方案，同时还能提供精确、可重复的 TEM 试样制备。
等离子 FIB-SEM 系统历来与高通量体积表征有关。然而，现代材料研究的需求要求更多--精确、损伤最小、重现性高的 TEM 样品制备。
在这次网络研讨会上，TESCAN 和悉尼大学将介绍采用 Mistral™ 等离子 FIB 技术的 AMBER X 2 如何重新定义人们的期望。
您将看到等离子 FIB-SEM 如何在一个通用系统中满足大批量三维表征需求，并为高级 TEM 应用提供高精度薄片。
发言者
Felix Theska（悉尼大学）、 a 悉尼大学悉尼显微镜与微分析研究所高级技术官员。Felix Theska 在原子探针断层扫描和透射电子显微镜的试样制备方面为研究人员提供支持。在他的职业生涯中，他使用配备 Ga+、Xe+ 和 Ar+ 柱的 FIB-SEM 工具以及 EDXS、EBSD 和 TKD 等分析功能，对相界、晶界、薄膜多层结构和纳米级颗粒进行特定部位的试样制备。在加入悉尼显微分析公司之前，Felix 曾在悉尼新南威尔士大学（UNSW）担任博士后研究员，并在德国伊尔梅瑙理工大学担任研究助理。
马丁-斯拉马（TESCAN）, a 他是材料科学领域 FIB-SEM 三维表征和 TEM 薄片制备的产品营销经理，拥有超过八年的 FIB-SEM 仪器使用经验。在他的职业生涯中 使用在使用 FIB-SEM 技术的整个职业生涯中，他主要专注于使用 TESCAN 的等离子 FIB 和 Ga+ FIB-SEM 解决方案进行传统和先进的 TEM 制备方法，以及通过 FIB-SEM 3D 层析技术进行材料表征。在加入 TESCAN 之前，Martin 曾在布尔诺科技大学、CEITEC 和阿斯顿大学从事新材料开发和表征工作。
您将学到什么？
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优化等离子 FIB 配置文件如何实现无伪影 TEM 试样制备
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悉尼大学工作流程的真实案例研究
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为什么 AMBER X 2 在性能、精确度和多功能性方面均处于领先地位？
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