完美的样品制备：利用 AMBER 2 和完全集成 FIB-SEM 的 Aura™ 柔和离子束，实现可重复的超薄 TEM 薄片

关于本次网络研讨会：

在不影响结构的前提下实现 20 纳米以下的透电子 TEM 试样是高分辨率 S/TEM 材料表征的核心挑战。在本次网络研讨会上，我们将展示与 Technoorg Linda 合作开发的集成 Aura™ 柔和离子束的 TESCAN AMBER 2 如何为无伪影的高质量超薄 TEM 薄片制备提供可靠的工作流程。 

与会者将探讨 

• 全自动 FIB-SEM 工作流程，确保在一夜之间制备出 TEM 样品 

• Aura™ 柔和离子束提供的低 kV 氩离子抛光的实际优势 

• Aura™ 柔和离子束可确保再现性并最大程度减少人工痕迹的真实案例研究 

与来自 TESCAN 和 Technoorg Linda 的专家一起，了解如何将先进的人工智能驱动 TEM 片自动化与尖端的 Ar 低 keV 离子抛光相结合，重新定义超薄 TEM 样品制备的标准。 

日期和时间： 20.05.2025
时长：~ 60 分钟 

发言者 

• András Szigethy，首席执行官，Technoorg Linda

• TESCAN 产品营销总监 Petr Klímek 博士 

• Márton Iritz，Technoorg Linda 公司应用专家

主要学习目标 

• 实现 20 纳米以下的 TEM 片层，最大程度地减少变形和离子试样损伤 

• 了解氩基低 kV 离子抛光的优势和使用案例 

• 了解 TESCAN AI 驱动的 TEM 片制备自动化如何提高重复性和 TEM 标本制备吞吐量 

谁应该参加TEM 专家、FIB-SEM 用户、材料科学家、电子显微镜专业人员和 TEM 标本制备专家。 

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