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来自 TESCAN 集团的 Lucille A. Giannuzzi 介绍了 TESCAN 在硬件、软件和自动化工作流程方面的最新创新成果，这些创新成果可用于制备电子透明试样以进行 S/TEM 分析。
在这一环节中，来自 TESCAN 集团的 Daniel Němeček 介绍了一种利用 TESCAN TENSOR 显微镜的前驱辅助电子衍射进行材料分析的创新方法，该方法旨在使纳米级结构分析更加高效和用户友好。
在这次研讨会上，阿拉巴马大学的 Gregory B. Thompson 博士深入探讨了透射电子显微镜 (TEM) 和原子探测断层扫描 (APT) 在研究纳米结晶金属的结构-化学关系方面的相关优势。
在这次研讨会上，来自 NanoMEGAS 的 Joaquim Portillo 博士与大家分享了扫描前序电子衍射 (SPED) 技术的最新进展。
