TESCAN UHR FIB-SEM 解决方案
地表和地下的特征描述
释放您的研究潜能,无论样品的特性如何,都能准确地将其可视化。
技术动态
将样品中的复杂细节呈现在整体环境去理解和分析,这很重要!
在材料科学领域,考虑狭义和广义背景以避免错误假设至关重要。假设 FIB 制备的横截面太小或取自无缺陷区域?我们的结论会是我们生产的材料质量完美无瑕吗?如果三维断层扫描是在较小的体积和较浅的深度上进行的,显示的晶粒整体较小呢?
阅读我们的论文,进一步了解背景数据对于准确的材料调查至关重要的原因。

以无与伦比的速度和精度进行三维多模态表征
Mistral™ 是市场上最精确、最强大的等离子 FIB。专为要求精确的应用而设计,如 TEM 样品制备。Mistral™ 可同时提供优化的分辨率和最高的束流。无论使用高束流还是低束流,Mistral™ 都能在所有设置下提供最佳分辨率。
材料有难度?没问题。
硬质和软质材料的混合、过度的地形或样品的优先取向都会导致 FIB 切割表面质量不佳。TESCAN 的摇摆平台和 True X-Sectioning 可实现快速横截面和三维分析,而不会影响产量或表面质量。
新型电池技术材料结构与化学的三维研究
了解电池材料的结构和化学成分对于确定新型电池化学材料在循环过程中的行为和稳定性至关重要。掌握局部形态与化学状态(如电极内的颗粒、空隙、锂和粘合剂分布)之间的复杂关系,对于这些先进电池材料的性能优化和抗降解性至关重要。
通过利用三维 FIB-SEM 断层成像与 ToF-SIMS 分析相结合,我们可以对新电池技术中的材料成分进行详细研究。与传统的 ToF-SIMS 深度剖析相比,这种三维方法能提供更精确的体积统计数据。此外,三维 ToF-SIMS 断层成像技术还有助于准确定位电池组件中的污染物、薄弱环节和化学不一致性。
3D ToF-SIMS:超越电池研究
利用三维 FIB-SEM 断层成像与 ToF-SIMS 分析相结合的强大功能,对新兴材料进行彻底检查。与传统的二维 ToF-SIMS 深度剖析相比,这种方法能提供更准确的体积统计信息。三维 ToF-SIMS 断层成像不仅对电池技术的发展至关重要,而且对材料科学的其他领域也大有可为,可呈现特定元素、同位素或痕量元素的精确分布图。
有疑问?
需要更多信息?
我们的全球团队随时准备回答有关 TESCAN FIB-SEM 和 TESCAN 其他解决方案的问题。