用 UHR FIB-SEM 制备 TEM 薄片
让 TEM 样品制备更上一层楼
获得超薄、无瑕、易于打理的 TEM 样品
拥抱自动化。专注于研究。
让自动化处理日常任务,毫不费力地无缝操作显微镜。自动 SEM 光束对准功能可控制大多数显微镜例行程序,而稳定的 FIB 预设值和 30 个 FIB 压电驱动光圈可确保您的 FIB 以最佳性能运行。

来自高要求材料的 TEM 样品
发现 TEM 样品制备的无与伦比的多功能性,适合各种材料,包括对空气或光束照射敏感的材料。克服非均质样品和先进几何形状的挑战,利用低 keV 抛光技术最大限度地减少损坏。与 TESCAN TEM AutoPrep Pro™软件无缝集成后,我们的自动 TEM 薄片制备技术简化了高质量样品的制作,加快了对材料特性和铣削挑战的研究和适应。
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我们的全球团队随时准备回答有关 TESCAN FIB-SEM 和 TESCAN 其他解决方案的问题。