TESCAN AMBER X 2
采用 MISTRAL™
等离子 FIB 镜筒
重新定义等离子体 FIB-SEM
TESCAN AMBER X 2 结合了原始的 FIB 分辨率、出色的离子束参数和无漏磁扫描电镜镜筒,重新定义了样品制备和表征的速度、精度和好用度。
我们最先进的等离子 FIB-SEM AMBER X 2
TESCAN AMBER X 2 是最先进的等离子 FIB-SEM 仪器。作为材料科学研究的整体解决方案,它能制备高质量的 TEM 样品,分析二维和三维材料的结构和化学性质,并以无与伦比的速度和精度提供相关的多模态分析信息。
凭借其独特的无漏磁扫描电镜镜筒和最新的 Mistral™ 等离子 FIB 镜筒,AMBER X 2 成为市场上适应性最强、最灵活、最方便用户使用的等离子 FIB-SEM 仪器。
TESCAN AMBER X 2 如何增强您的研究能力
自动 TEM 薄片制备
快速、精确的 FIB-SEM 分析
新颖的 3D 多模态视角
高级对比方法
用户友好性

卓越兼容性样品
观看 TESCAN AMBER X 2
网络研讨会
等离子体 FIB-SEM TEM 薄片制备的最佳效果
TESCAN AMBER X 2 使您能够获得高质量的 TEM 样品,且损伤最小,无任何 Ga 污染,省时省力。自动软件 TEM AutoPrep Pro™ 简化了整个过程,可指导您选择感兴趣的区域、定义样品几何形状并实时监控研磨过程。
材料理解的新维度
TESCAN AMBER X 2 超越了传统的分析方法,为您提供了一个通往全新三维世界的门户,让您深入了解样品的形态、成分、结晶学和化学性质。结合 EDS、EBSD 和 ToF-SIMS 数据的强大功能,以令人惊叹的三维细节揭示材料中隐藏的秘密。
无上细节 无限探索
TESCAN AMBER X 2 可以让您比以往任何时候都更深入地了解材料的核心。在金属、陶瓷、聚合物甚至生物材料等各种材料中,探索最精细的细节,发现以前未曾发现的特征和对比。具有能量过滤功能的无漏磁 BrightBeam™ 技术可让您利用低着陆能量对样品进行成像,使其异常清晰且损伤最小,从而获得最佳效果。
这种组合使您能够突破研究界限,在各个领域取得新的发现。




与研究同步发展的系统
TESCAN AMBER X 2 的设计可与您的研究工作一起适应和成长。其模块化设计可根据您的特定需求进行定制,确保您拥有任何应用所需的工具。
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