用于先进材料研究的精密扫描电镜
TESCAN MIRA XR 提供 UHR 成像和先进的分析功能，使研究人员能够探索各种尺度的材料特性。从冶金到电池研究，从纳米材料到失效分析，MIRA XR 都能为任何研究提供所需的清晰度、准确性和自动化。
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冶金学与金相学
探索先进材料的微结构
金属是航空航天、汽车和能源等行业的支柱。了解其微观结构和失效机理对于优化性能和耐用性至关重要。MIRA XR 在宏观特性和纳米级洞察力之间架起了一座桥梁，揭示了断裂、晶粒结构和材料界面的关键细节。从 ECAP 处理的铝晶粒细化到高强度合金的失效分析，MIRA XR 提供了提高材料可靠性和性能所需的洞察力。
分析断裂和界面
在多材料系统中跟踪裂纹扩展、识别应力条件并评估界面完整性。
探索详细的元素和晶体数据
可选的 EDS 和 EBSD 提供精确的材料成分和晶粒结构分析，分辨率从毫米级到纳米级。
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纳米材料
用超高分辨扫描电子显微镜为看不见的东西成像
纳米材料正在塑造生物医学、催化和环境科学等领域，但其独特的特性要求进行纳米级表征。MIRA XR 可提供研究这些材料所需的分辨率和对比度，同时不影响其完整性。利用 MIRA XR，研究人员可以微调和控制纳米材料的特性，用于药物输送、过滤介质和下一代涂层。
对光束敏感样品的高分辨率成像
低电压成像可保护聚合物纳米纤维和介孔二氧化硅 (SBA-15) 等精密结构。
地形与构图对比
柱内 SE 和 BSE 检测可显示详细的形态、孔隙度和材料成分。
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电池研究
推进下一代能源存储
全球对高性能锂离子电池的需求要求对微观结构和组成特性有更深入的了解。MIRA XR 可提供优化材料所需的高分辨率成像和分析，以实现更好的储能、效率和寿命。借助 MIRA XR 的自动化工作流程，电池研究人员可以改进材料和生产工艺，为更高效、更长寿的储能解决方案铺平道路。
电极表征
自动成像和 EDS 分析确保了对粒度分布、球形度和表面形态的精确测量。
污染物
检测
识别影响电池寿命和性能的杂质和结构缺陷。
分离器
分析
评估孔隙率、均匀性和缺陷密度，以优化离子传输和机械稳定性。
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故障分析与质量控制
防止缺陷，确保可靠性
材料失效会带来昂贵而危险的后果。MIRA XR 为研究人员和制造商提供了成像和分析工具，以揭示失效机理并提高产品质量。
从航空航天部件到高性能合金，MIRA XR 都能提供提高材料耐久性和制造精度所需的鉴证洞察力。
断裂面分析
区分疲劳断裂、脆性断裂和韧性断裂，揭示应力条件和材料缺陷。
裂缝扩展跟踪
WideField™ 光学技术可快速识别断裂材料中的起爆点和传播路径。
材料成分和晶粒结构分析
EDS 和 EBSD 有助于检测杂质、相分布和结构弱点。
现场测试
实时洞察材料行为
了解材料对机械应力、热量和环境条件的反应对于设计耐用和高性能的结构至关重要。MIRA XR 的原位 SEM 测试能以无与伦比的清晰度揭示这些行为。
从热诱导相变到涂层应力测试，MIRA XR 为研究人员提供了将材料推向极限或更高水平所需的洞察力。
实时结构变化
跟踪各种应力下的相变和裂纹形成。
自动高分辨率测量
SEM ExpertPI (API) 能够在统计意义重大的区域内精确采集数据，即使在无人值守的情况下也是如此。
材料研究的完整解决方案
TESCAN MIRA XR 是用于先进材料研究、失效分析和下一代制造的强大工具集。无论您是在优化合金、改进纳米材料，还是在改进储能解决方案，MIRA XR 都能确保您保持领先所需的精度、速度和适应性。
