TESCAN摇摆样品台的主要优点
固定角度抛光与摇动抛光。摇动抛光能有效去除帷幕文物。
正在消失的窗帘文物！
消除FIB加工导致的帘幕效应，改善成像效果。无论是由偏好切割速度、表面形貌，或是内部样品几何形状引起的伪影皆可消除。
指尖上的精准
在整个切割和摇摆过程中，SEM的实时监测，精准定位你感兴趣区域的终点。
提高您的样品制备效率
TESCAN摇摆台设置向导自动化操控摇摆程序和位置，最大限度地提高产量。
适应复杂的样品
通过无伪影的FIB横断面和横断面抛光，为半导体器件和先进材料的失效分析，提高最终样品质量。
多功能性与兼容性的结合
新型设计与负载锁、光束减速模式（BDM）和 RSTEM 检测器完全兼容，让您受益匪浅。而不会牺牲系统的多功能性。
TESCAN摇摆样品台的先进应用
掌握失效分析的技艺
利用 TESCAN 摇动平台的无伪影 FIB 截面功能，提高半导体器件或先进材料失效分析的最终样品质量。
完善您的断层扫描
TESCAN摇动样品台，级大限度地减少帘幕效应，实现原始成像结果，增强FIB-SEM断层扫描采集能力。
轻松处理大型和扁平样品
通过 TESCAN 摇动平台的多功能设计，您可以管理大量样品，并促进对各种样品的研究。