
使用 TESCAN TENSOR 进行应变测量
应变测量是 TESCAN TENSOR 扫描透射电子显微镜 (STEM) 的主要功能之一。利用 4D-STEM 技术,可在纳米尺度上对材料的拉伸、压缩和形变进行可视化和量化。自动电子光路对中与实时数据处理的无缝集成,使广大科学家和电镜操作员都能进行应变测量。
观看下面的视频,了解 TESCAN TENSOR 应变测量工作流程的实际操作。
主要功能
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旋进电子衍射:提高衍射图案的质量,以便更好地处理数据。
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空间分辨率高:以纳米级分辨率测量样品中的应变。
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高精准:测定应变值的精度约为 0.05%。
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多功能:适用于半导体和材料科学领域的各种样品和材料。
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易操作:简化工作流程,任何用户都能高效、准确地获取和分析数据。
应用领域
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半导体工业:表征晶体管等器件中的应变。
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材料科学:研究材料中的缺陷和位错。
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能量存储:分析电池电极的应变
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航空航天:调查结构部件中的应变。
主要优势
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增强设备性能:通过了解应变相关效应来优化设备。
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研究效率更高:高效分析和表征材料。
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提高产品质量:确保产品的可靠性和耐用性。
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