关于
Micro-CT的新维度
SPECTRAL CT 可提供传统Micro-CT 无法提供的对比度，并通过观察用于成像样品的整个 X 射线能谱来揭示样品的成分信息。
SPECTRAL CT 能以非破坏性方式揭示样品内部任意点的化学信息，并将其与同一样品的高质量结构信息相结合。
在商用Micro-CT系统中，我们首次可以获取化学数据，例如识别用于采矿和回收的贵金属，区分工程样品中的不同聚合物，或优化生物样品中的对比度。
使用案例
探索 SPECTRAL CT 的更多信息
K 边缘检测
无需事先了解即可进行绝对元素识别
利用 k-edge 检测技术，可以在不了解样品的情况下识别贵金属和元素。
TrueContrast™ 对比度
在传统 CT 无法提供对比度的地方提供对比度
当传统 CT 无法区分不同材料时，SPECTRAL CT 可在一次扫描中进行多能量分析。
数据库匹配
指尖上的信息宝库
将能谱与参考数据库或相互之间进行比较，以获取有关成分、浓度和密度的信息。
分析
SPECTRAL Suite - SPECTRAL 数据的强大分析工具
TESCAN SPECTRAL 套件充分发挥了 PolyDET II 的强大功能，为 SPECTRAL 数据的采集、重建和分析提供了工具。通过与 TESCAN 的Micro-CT 控制软件 Acquila™ 直接通信，可使用直观的 VOI 扫描工作流程在样品内部的任意点采集数据。
重建后的能谱可以进行可视化、分析和比较，从而可以使用先进的分析工具，如多能 CT、k 边检测或提取原子序数图。
行动中
TESCAN
波城大学 UniTOM XL SPECTRAL
法国波城大学首次安装了 TESCAN UniTOM XL SPECTRAL。Peter Moonen 博士教授使用该系统对岩石和金属进行多模态表征，并对 TESCAN UniTOM XL 的功能感到惊叹。
将传统成像技术与Micro-CT成像技术相结合，可为能源和采矿应用带来一系列新颖的应用。
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