网络研讨会：电池及其组件的无损、高分辨率和时间分辨三维/四维多尺度分析

网络研讨会说明

在快速发展的电池技术领域，对电池材料进行快速、多功能和非破坏性表征的需求至关重要。Micro-CT已成为电池研究、开发、质量控制和故障分析的重要工具。

在这次 TESCAN 电池网络研讨会上，Wesley De Boever 博士将探讨TESCAN 的 micro-CT 解决方案如何增强电池开发和质量控制。

关键主题将包括识别原始电池和循环电池中的结构缺陷，以及深入了解电池在不同条件（如高温）下的原位行为。这种分析对于改进电池设计和安全性至关重要。

该网络研讨会面向该领域的专业人士和爱好者，提供关于 电池在每个开发阶段的行为的独特视角。

观看我们的网络研讨会，利用TESCAN 最先进的Micro-CT 解决方案，增进您对储能创新的了解。