随着半导体行业向着更高的集成度、密度和微型化迈进，保持领先地位势在必行。请将 2024 年 3 月 5 日记入您的日历，我们将邀请您参加一场新的网络研讨会，它将改变您进行半导体样品分析的方式。
网络研讨会标题： "利用 TESCAN SOLARIS X 提高半导体深度截面、无 Ga+ TEM 样品和延迟的吞吐量和质量"。
日期和时间 2024 年 3 月 5 日上午 9 时至下午 5 时