我们最新的技术说明探讨了现代 STEM 仪器对厚密样品进行成像和分析的能力。一起来看一下当灵敏的直接电子探测相机在电子束旋进的衍射加持下，即使在100kV电压，对厚密样品进行拍摄的数据质量。
主要亮点：
深入了解现代 STEM 仪器的成像和分析能力。
了解样本厚度对数据质量和分析结果的影响。
直接电子探测相机和电子束旋进在提高STEM分析能力中的作用。
用材料科学研究和半导体工业中使用的基准样本的结果验证所获数据的质量。
说明为什么在研究多相功能材料，例如多孔电池电极和堆叠半导体器件时，使用较厚的样本是必要的。这是因为这些材料的内部结构完整性对于研究至关重要，而这种完整性是薄片样本所无法提供的。
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