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氧化锆相图 晶体学 结构分析 序列 ED

应用说明：改进用于晶体结构细化的序列 ED 数据集

前序辅助 SerialED 可提供更高的数据质量、更少的所需晶体和更精确的细化结果

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利兹大学网络研讨会：突破软物质 4D-STEM 的极限

与 Andy Brown 教授合作，利用低剂量分析 STEM 对光束敏感聚合物进行结构表征

单击此处注册网络研讨会

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核材料中的腐蚀分析 4D-STEM 晶体定向 氧化锆相图

利用 4D-STEM 识别氧化锆层中的纳米级相位：利兹大学利用 TESCAN TENSOR 开展的研究

探索分析性 4D-STEM 如何揭示纳米尺度的细粒度氧化锆相变

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电子衍射 矿物分析 结构晶体学

通过包括氢原子在内的埃级以下分辨率结构测定进行矿物鉴定

利用 TESCAN 张量及其简化的前驱电子衍射断层扫描 (PEDT) 工作流程解析矿物的原子结构

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STEM 有机晶体 位错分析

利用低剂量 SED 分析光束敏感有机晶体中的位错

低剂量沉降在光束敏感有机晶体中的应用

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TESCAN TENSOR
扫描透射电子显微镜

纳米材料 STEM 中的高级定向分析

TESCAN 在布里斯班 APMC13 展会上的创新成果

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利用 TESCAN STEM 解决方案开展半导体行业研究

TESCAN 扩展亚洲业务

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图 1：（a）虚拟明场（BF）扫描透射电子显微镜（STEM）图像显示了充电前原始NCM811正极材料的初级颗粒。(b、c）图a所示正极颗粒的相位与取向分布图。
相位映射 泰斯康传感器 电池研究 应变分析 前序辅助 4D-STEM

探索 TESCAN 张量的 STEM 高级成像技术

富镍层状阴极材料的 4D 干分析

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4D-STEM 相位图 取向分析 电子衍射

用 TESCAN TENSOR 探索材料科学的最新创新

利用 TESCAN 张量进行高级相位和方位绘图

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TESCAN 应变测量仪
材料科学 特斯康传感器 应变测量 半导体器件

利用先进的 STEM 技术测量张量应变

利用 TESCAN 张量仪精确测量应变，用于材料研究

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