深入了解 STEM 研究与创新 

STEM 领域的最新发展:

趋势与技术

自定义图像

前序辅助 SerialED 可提供更高的数据质量、更少的所需晶体和更精确的细化结果

📄 下载下面的完整应用说明 👇

与 Andy Brown 教授合作,利用低剂量分析 STEM 对光束敏感聚合物进行结构表征

单击此处注册网络研讨会

自定义图像

探索分析性 4D-STEM 如何揭示纳米尺度的细粒度氧化锆相变

📄 下载下面的完整应用说明 👇

利用 TESCAN 张量及其简化的前驱电子衍射断层扫描 (PEDT) 工作流程解析矿物的原子结构

低剂量沉降在光束敏感有机晶体中的应用

TESCAN 在布里斯班 APMC13 展会上的创新成果

TESCAN 扩展亚洲业务

利用 TESCAN 张量进行高级相位和方位绘图

利用 TESCAN 张量仪精确测量应变,用于材料研究

有疑问?


想要在线演示?


我们的全球团队随时准备回答有关 TESCAN TENSOR 和 TESCAN 其他解决方案的问题。