TENSOR 技术动态频道
紧跟 TESCAN TENSOR 的最新资讯，涵盖用户案例、前沿应用和 STEM 技术的进步。加入我们，体验首款集成的、旋进辅助的分析型4D-STEM系统！
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欢迎深入了解 TESCAN TENSOR，它是透射电子显微镜 (TEM) 和扫描透射电子显微镜 (STEM) 领域的开创性仪器。
TESCAN 很高兴地宣布，我们将参加 7 月 29 日至 8 月 1 日在美国俄亥俄州克利夫兰举行的 2024 年显微镜与微分析 (M&M) 会议。
这一备受推崇的盛会是显微镜和微分析领域专家的一次重要聚会。
TESCAN TENSOR 是一种多模态分析型 4D-STEM 显微镜，可对异质材料中的微米级和纳米级畴进行详细分析。它结合了电子衍射断层扫描（3DED）和电子衍射绘图（4D-STEM），以确定材料中的微观和纳米尺度...
使用TESCAN TENSOR揭开材料的秘密
TESCAN TENSOR 重新定义了纳米级元素分析的可能性。这款先进的 4D-STEM 分析仪简化了获取和解释 EDS 数据的过程，使您能够...
TESCAN GROUP隆重推出纳米分析领域的一项突破：在我们的TESCAN TENSOR 上将前驱辅助 4D-STEM 相位和方位映射与同步 EDX 信号集成在一起。这一创新方法由我们的专家率先提出，...
我们的最新技术报告探讨了现代 STEM 仪器对较厚试样进行成像和分析的能力。与我们一起揭示试样厚度对在 100 kV 下灵敏直接电子显微镜采集的数据质量的影响。
TESCAN 很荣幸地宣布将参加在捷克共和国布尔诺举行的 EMAS 2024 研讨会。今年的研讨会为我们提供了一个独特的机会，让我们能够了解材料科学领域的最新进展。
使用 TESCAN TENSOR 详细了解 4D-STEM
我们新推出的系列视频从用户角度详细介绍了拍摄和解读 4D-STEM 取向分布图的简化工作流程。
