网络研讨会：用于电池研究的 TESCAN 显微 CT

了解 Micro-CT 在电池研究、加强研发和质量控制方面的变革力量。观看我们的网络研讨会，深入了解电池的无损分析和实时行为监测。

本网络研讨会探讨了微计算机断层扫描技术在电池研究中的应用，重点是在不同尺度上分析电池组件的非破坏性方法。

它包括缺陷检测、不同条件下的实时 性能监测，以及从研发到质量保证的广泛应用。

演讲人介绍

Wesley De Boever 博士TESCAN GROUP Micro-CT 产品销售负责人以其对电池研究创新的专业见解主持了讨论。