探索多尺度电池表征的前沿:
ToF-SIMS与拉曼能谱技术,
完美融合于FIB-SEM平台
利用 3D ToF-SIMS 断层成像技术进行电池表征
利用全自动三维 FIB-SEM 断层成像和集成 ToF-SIMS 分析,揭示电池组件的局部形态与化学状态之间的复杂关系。与传统的 ToF-SIMS 深度剖析不同,三维 ToF-SIMS 断层成像可提供精确的体积化学数据,克服了电池材料的成分和形貌表征异质性所带来的限制。
推进电池特性分析,深入研究电极内颗粒、粘合剂、孔隙率、锂和其他元素的分布。
打造电池材料定制分析流程,一站式显微系统解决方案
通过在一台显微镜仪器中关联各种分析技术,全面了解电池工艺和成分。通过将超高分辨率扫描电子显微镜观察以及相位、元素和化学状态分析与集成 EBSD、EDS、ToF-SIMS 和拉曼能谱相结合,为电池材料的表面和亚表层 2D/3D 表征创建自定义分析工作流程。此外,您还可以使用 FIB 技术访问电池样品上感兴趣的特定亚表层区域。
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