深入了解电池材料的结构和化学性质 | TESCAN AMBER X

以二维和三维方式了解电池材料的内部结构和化学性质

TESCAN AMBER X UHR PFIB-SEM 提供了对电池材料内部结构和化学性质的二维和三维观察，推动了材料研究，显著提高了电池性能。使用最先进的 BrightBeam™ 扫描镜筒体验高分辨率观察，并利用市场领先、最高通量的 Xe PFIB 技术加快亚表面分析。

凭借强大的电子和元素检测功能，无论样品的特性如何，都能轻松分析和观察形貌、材料和化学性质。在单个系统中，即可利用全面的二维和三维分析功能对电池材料（从毫米级到纳米级）进行多模态表征。

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TESCAN AMBER X 如何增强您的研究能力

体积特征综合分析

通过大体积分析（EDS/EBSD/ToF-SIMS）断层成像获得多模态分析结果。

光元素检测

屏蔽组 5-1

探索包括锂在内的最轻元素的分布。

大面积聚焦离子束切割处理

10-1

通过表征毫米级横截面的特征，获得全面的数据。

高度自动化

第 2 面罩组

充分利用仪器时间，实现高效分析。

容易使用

第 4 面罩组

用户友好的控制功能可简化研究过程。

敏感样品保护

保护含有锂的样品免受空气或湿气的影响。

通过三维 FIB-SEM 断层成像数据实现石墨负极孔隙率可视化

从 3D ToF-SIMS 断层成像分析循环石墨负极中的锂分布

为 3D FIB-SEM 断层成像预处理的 NMC 阴极区域

通过三维 ToF-SIMS 断层成像分析 LFP 阴极中 Li、Na 和 Li2F 的分布情况

用 FIB 制备的石墨阳极截面图

LFP 颗粒的 STEM 高分辨率视图

锂电池正极的 FIB 制备截面图

TESCAN AMBER X 的
主要优点

通过深入了解固体电解质界面 (SEI) 的特性来提高电池寿命和（失）电率：
利用 ToF-SIMS 探索 SEI 的分布、均匀性、厚度和化学成分，从而实现高表面灵敏度和最轻元素（包括锂）的检测。
确保电池组件的最高质量：
分析电极材料的化学和结构均匀性。利用 SEM、EDS 和 ToF-SIMS 数据采集技术，通过 3D 断层成像技术研究颗粒、粘合剂、碳黑和孔隙率的体积分布。

通过对电极和阴极颗粒降解机理的高分辨率研究，防止电池容量衰减：
利用 SEM 和 STEM 成像、ToF-SIMS 和拉曼能谱了解电极颗粒降解。
识别电极中的化学杂质, 确保目标电池寿命：
使用SEM（扫描电子显微镜）、EDS（能谱仪）和/或ToF-SIMS（时间飞行二次离子质谱仪）技术进行二维或三维材料分析。
通过确保惰性气体（无氧和无水）环境，优化并精确表征您的循环使用和含锂电池材料的化学特性：
通过惰性气体转移，保护敏感样品免受空气或水分的影响。

观看用于锂电池表征的 AMBER X 网络研讨会

TESCAN AMBER X PFIB-SEM 前视图

体验 TESCAN AMBER X 的性能

阴极预处理前镍钴氧化物颗粒的 SEM 评估

探索扫描电镜在活性材料和组件中的应用

循环石墨负极中锂的三维断层成像

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