先进的材料表征技术：
TESCAN在伊斯坦布尔技术大学

我们很高兴能参加关于使用 SEM、FIB-SEM、STEM 和 MicroCT 的先进材料表征技术的实践研讨会。该研讨会将于 2024 年 5 月 29 日（星期三）在伊斯坦布尔技术大学举行，专为推动材料科学发展的研究人员和科学家而设计。

本次研讨会邀请了Tomáš Šamořil 博士 和Daniel Němeček 博士等著名演讲者，他们将深入探讨相关的 FIB-SEM 表征和使用先进显微镜进行纳米级表征等主题。

日程概览：

• 09:00-09:30: 欢迎致辞
• 09:30-10:30: 报告《推进材料科学研究的 FIB-SEM 相关表征》 - Tomáš Šamořil 博士
• 10:30-11:00 茶歇
• 11:00-12:00: 报告《用现代多模态分析 STEM 显微镜将材料表征推向纳米尺度》 - Daniel Němeček 博士
• 12:00-13:00: 午餐时间
• 13:00-14:00: 报告《先进的三维和四维成像技术用于电池开发和材料科学中的结构和成分分析》 - Wesley De Boever 博士
• 14:00-14:30: 茶歇
• 14:30- 15:30: 报告《用集成 TOF-SIMS 的 FIB-SEM 对锂电池材料进行表面和亚表面表征》 - Tomáš Šamořil 博士
• 15:30-16:30: 问答环节

想了解更多？
请点击此链接查看详细日程和演讲者信息！https://docs.google.com/forms/d/1Mk9LwrOHXN5nrpBrw65A_HW20IA_SUl3xHhnTlLUgnI/viewform?pli=1&pli=1&edit_requested=true

本次研讨会将成为研究人员深入了解突破性材料表征技术的宝贵平台。我们期待着促进该领域的讨论与合作！