网络研讨会公告：TESCAN 显微CT 解决方案赋能电池研究 - 2024 年 2 月 8 日
利用X射线显微CT断层扫描技术开发电池
随着全球对电池可靠性、安全性的需求不断增加，显微CT 成为电池研究、开发、质量控制和失效分析的重要工具。
2 月 8 日与我们一起2024年2月8日2024 年，我们将通过在线会议深入探讨 TESCAN 微计算机断层扫描解决方案的各个方面，以改进电池开发和质量控制流程。
我们很高兴邀请到 TESCAN 集团 显微CT 产品销售负责人 Wesley De Boever 博士。他将主持关于 "利用 TESCAN 显微CT 解决方案加强电池研究 "的讨论：电池单元及其组件的无损、高分辨率和时间分辨 3D/4D 多尺度分析"。
日期和时间2024 年 2 月 8 日，上午 9:00 和下午 5:00。
内容预告
- 创新的非破坏性研究方法：了解微计算机断层扫描对电池研发的影响，提供从微小颗粒到整个模组的详细、非侵入式分析。
- 不同尺度的分析：了解微型计算机断层扫描在提供从微观到宏观尺度的全面洞察力方面的功能，这对于了解从电极到完整电池的电池组件至关重要。
- 发现和分析缺陷：了解微型计算机断层扫描在检测新旧电池单元结构缺陷方面的关键作用，这是提高电池设计和安全性的关键。
- 实时电池性能监测：深入探讨如何利用微型计算机断层扫描（显微CT）观察电池在各种条件下（包括高温暴露）的实时性能。
- 电池创新中的广泛应用：
见证微型计算机断层扫描在电池开发阶段（从初始研究到质量保证）的广泛应用。
会见专家：Wesley De Boever 博士
在 TESCAN 集团，De Boever 博士是将显微CT 技术应用于电池研究的领军人物。他的专业知识使他对当今电池技术领域的挑战和机遇有了深刻的理解。
加入我们的启迪性会议，与塑造电池技术未来的专业人士和爱好者进行交流。
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