TESCAN 亮相 M&M 2024:与我们一起发布 AMBER 2!

TESCAN 很高兴地宣布,我们将参加 7 月 29 日至 8 月 1 日在美国俄亥俄州克利夫兰举行的 2024 年显微镜与微分析 (M&M) 会议。

 

这一备受推崇的盛会是显微镜和显微分析领域专家的重要聚会,我们渴望在此展示我们的最新进展和对科学界的贡献。今年,我们特别兴奋地推出了 TESCAN AMBER 2,这是我们 AMBER 系列备受期待的升级产品。

体验显微镜的未来

 

欢迎莅临我们的 521 号展位,参观我们的演示系统,包括 TESCAN AMBER 2、TESCAN CLARA、TESCAN TENSOR 和 TESCAN micro-CT。

 

我们的专家团队将为您提供现场演示,回答您的问题,并讨论我们的创新解决方案如何能够改进您的研发工作流程。

 

TESCAN AMBER 2 正式发布

 

我们很高兴地宣布 TESCAN AMBER 2 将在 M&M 2024 上正式发布。发布会将于 7 月 29 日在我们的展位(521 号)举行。

 

这是您与这一先进 FIB-SEM 系统的开发人员会面并探索其功能的机会。AMBER 2 为全面的样品制备和表征提供了卓越的速度、精度和多功能性。

 

别忘了在此预订演示

 

了解我们的最新工具:TESCAN Aura Gentle 离子束 ™ 和 TEM AutoPrep Pro™

 

除 AMBER 2 外,我们还推出了两款新工具,旨在改进 TEM 样品制备:

 

  • TESCAN Aura Gentle™ 离子束镜筒技术:该系统可在 TEM 样品制备过程中将镓 FIB 引起的损伤降至最低,确保将变质损伤降至最低,并保留样品的晶体结构。

  • TESCAN TEM AutoPrep Pro™:该软件可自动优化整个 TEM 样品制备过程,在无人值守的通宵运行期间执行铣削、取出、修整和抛光等任务,从而提高生产率。

 

参加我们的科学报告会

 

我们的团队将在会议期间发表多篇科学论文。请务必参加这些会议,以获得新的见解并了解显微镜和微分析领域的最新进展:

 

  1. 矿物光谱显微 CT 成像检索原子信息和密度图

    日期和时间:2024 年 7 月 29 日星期一下午 3:00 - 5:00
    地点:展厅海报板 7
    演讲者: Wesley De Boever 博士Wesley De Boever 博士

 

  1. 用于扫描电子显微镜的新型全集成可伸缩 4D STEM 探测器,采用基于 Timepix3 的像素化探测器

    日期和时间:2024 年 7 月 29 日星期一下午 3:00 - 5:00
    地点展厅海报板?
    演讲者拉斯蒂斯拉夫-莫图兹

 

  1. 电池电解质在形成和加热过程中的行为:利用高分辨率和动态显微 CT 的新见解

    日期和时间:2024 年 7 月 30 日星期二上午 11:45 - 下午 12:00
    地点: 亨廷顿会议中心 19 号会议室亨廷顿会议中心 19 号会议室
    演讲者:Ksenija Nikolic 博士Ksenija Nikolic 博士

 

与我们的客户服务团队预约会面

我们的客户服务团队将在整个会议期间与您讨论您的具体需求以及 TESCAN 解决方案如何支持您的研发工作。

 

与我们的团队预约会面,让您的 M&M 2024 之旅收获满满。

 

欢迎莅临 521 号展位

 

我们诚邀您参观我们的展台,预约演示时段,了解 TESCAN AMBER 2 和我们的新工具。千万不要错过这次与我们的专家交流的机会,亲眼目睹 TESCAN 如何推动显微镜和显微分析领域的发展。

 

有关 TESCAN AMBER 2 和新工具的更多信息,请访问我们的网站: https://info.tescan.com/matsci-FIB-SEM/tescan-amber-2

 

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我们的全球团队随时准备回答有关 TESCAN FIB-SEM 和 TESCAN 其他解决方案的问题。