AMBER 2 如何增强您的研究能力
TESCAN AMBER 2 是一款全自动 Ga FIB-SEM，适用于常规 TEM 样品制备、纳米级表征和原型开发。
它精度高、使用方便，即使在低加速电压下也能提供极高的 FIB 图像质量。无漏磁 BrightBeam™ 扫描电镜镜筒确保了高对比度的纳米级成像和卓越的样品多功能性。
无论是制备 TEM 样品、创建纳米结构还是表征纳米材料，AMBER 2 都是适用于各种用途的完美工具。
显示使用 TEM AutoPrep Pro™ 在 1 小时内自动制备 TEM 样品的图像
自动 TEM 制备
自动制备高质量的 TEM 样品，将损坏程度降至最低。
先进的 TEM 薄片制备技术
在 TEM 样品中实现卓越的质量、最佳的几何形状和最小的非晶化损伤。
FIB
纳米原型
使用一台 FIB-SEM 仪器将材料制造、创建或修改为功能器件。
高级扫描电子显微镜
对比方法
提高表面灵敏度，更有效地检测不同阶段。
电子束曝光技术
利用 TESCAN 自有的电子束曝光技术和快速光束消隐器，制作纳米级和微米级的精密功能原型。
方便用户
无需丰富的 FIB-SEM 专业知识即可获得高质量数据
观看我们的 TESCAN AMBER 2
网络研讨会
AMBER 2 号的主要优势
TESCAN AMBER 2 是一款无漏磁 Ga FIB-SEM 系统，为自动化和多功能 TEM 样品制备提供了简单可靠的解决方案，可实现 TEM 样品制备工作流程的自动化。
通过制备倒置或平面样品，并使用纳米机械手将其转移到网格上以实现精确的特征定位，探索 TEM 的新可能性
。
%20kopie.png?width=214&height=214&name=MicrosoftTeams-image%20(46)%20kopie.png)
利用 AMBER 2 的电子束曝光、离子束原型、FEBID 或 FIBID 功能制造、创建或修改功能器件，提高设计的灵活性和创造性。
.png?width=214&height=214&name=MicrosoftTeams-image%20(29).png)
利用 TESCAN Essence™ 软件简化 FIB-SEM 操作，自动进行 SEM 和 FIB 对齐，并为所有技能水平的人员提供先进的平台碰撞保护。
利用 BrightBeam™ 无漏磁 UHR-SEM 镜筒和大电流 Orage™ FIB 镜筒，对各种材料进行超高分辨率成像和纳米分析
，确保卓越的性能和多功能性。
利用 AMBER 的多模态检测系统，可同时采集多个信号，从而更深入地了解材料。
准备就绪时通知我
×