网络研讨会：TESCAN AMBER 2 和 TESCAN AMBER X 2 的加强版 TEM 样品制备功能

TESCAN AMBER 2 和 TESCAN AMBER X2 系统在 TEM 样品制备方面取得了最新进展，欢迎参加 TESCAN 的精彩网络研讨会。

再次观看我们的会议 ，了解这些尖端工具如何重新定义样品制备的速度、实用性和精确性，使高通量工作流程更加高效和有效。

本网络研讨会将深入探讨TESCAN AMBER 2和TESCAN AMBER X2 的创新功能，并特别关注人工智能驱动的 TEM AutoPrep Pro™。了解这些系统如何简化整个薄片制备过程（从初始提取到最终清洁），同时保持最高标准的精度和质量。

Aura 柔和离子束 (GIB)技术通过使用低能量氩离子进行最终抛光来优化 TEM 样品制备，大大减少了非晶化和离子注入等损伤机制。这种方法可确保优异的样品完整性并支持高分辨率成像，尤其适用于敏感材料，是TESCAN AMBER等先进系统的理想补充。

会议内容包括OptiLift™ 纳米机械手创建精确薄片几何形状的能力、根据大型材料数据库调整工作流程的策略，以及 AMBER 系列如何在不影响样品完整性的情况下确保快速周转时间。

Martin Slama 的照片 TESCAN 产品市场经理Martin Sláma 在 FIB-SEM 3D 表征和 TEM 薄片制备方面拥有超过 8 年的经验，他将带领您了解 TESCAN AMBER 2 和 TESCAN AMBER X2 在现代材料科学中的主要功能和实际应用。

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