采用 Technoorg Linda 技术的 TESCAN Aura Gentle 离子束镜筒技术为 TEM 样品制备引入了一种变革性方法。先进的 Technoorg Linda 温和离子束技术集成设计可与 TESCAN 的 FIB-SEM 完美配合，并在制备过程中提供高水平的质量控制。集成了 Aura Gentle 离子束镜筒系统使研究人员能够以无与伦比的简便性和准确性制作顶级 TEM 试样。
重新定义 TEM 样品制备
制备高分辨（S)TEM 样品真的需要那么复杂吗？其实可以很直接很简单。TESCAN FIB-SEM 中集成的 Gentle 离子束镜筒技术可以简化 TEM 样品制备过程，解决多相材料对 Ga+ FIB 离子束敏感性的问题。
TESCAN Aura Gentle 离子束镜筒采用 Technoorg Linda 技术，可确保最佳厚度和最小的非晶化损伤，这对清晰精确的 TEM 成像至关重要。该系统的氩离子能量可低至 200 eV 或更低，从而最大程度地减少了对样品的破坏，并保留了样品的晶体结构。
TESCAN Aura Gentle 离子束镜筒系统的主要优点
超薄
标本
利用能量低至 200 eV 的超精细氩离子抛光技术，制作出清晰度无与伦比的超薄 TEM 试样，确保将损伤降到最低，并保证试样的卓越质量。
效率与保护
通过集成的 Gentle 离子镜筒技术对 TEM 样品质量进行严格控制，使用 RSTEM 检测器以亚纳米分辨率观察样品，减少了显微镜转移的需要。
简化
工作流程
自动对 FIB 样品进行柔和抛光，直接在 FIB-SEM 中进行 SEM 质量控制，无需操作样品，确保完整性和数据质量。
高分辨率
TEM 成像
从 TEM 实验中获取高分辨率图像，揭示原子结构，使其不受之前制造 Ga FIB-SEM 时产生的 Ga 污染的影响。
高级功能和集成
该系统利用人工智能机器学习来识别关键的物理特征，如纳米机械手尖端、对齐标记和薄片边缘。TESCAN 专有的 OptiLift™ 纳米机械手安装在 FIB 柱下方，提供了高自由度，可将薄片安装在有利的几何形状中，解决了帘幕等难题。
