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改变原子探针断层扫描游戏规则的 FIB-SEM

TESCAN 公司的 Kathrin Rudolph 博士展示了该公司通过灵活的显微镜解决方案应对生命科学研究挑战的方法。

来自 TESCAN 集团的 Lucille A. Giannuzzi 介绍了 TESCAN 在硬件、软件和自动化工作流程方面的最新创新成果,这些创新成果可用于制备电子透明试样以进行 S/TEM 分析。

在这一环节中,来自 TESCAN 集团的 Daniel Němeček 介绍了一种利用 TESCAN TENSOR 显微镜的前驱辅助电子衍射进行材料分析的创新方法,该方法旨在使纳米级结构分析更加高效和用户友好。

在这次研讨会上,阿拉巴马大学的 Gregory B. Thompson 博士深入探讨了透射电子显微镜 (TEM) 和原子探测断层扫描 (APT) 在研究纳米结晶金属的结构-化学关系方面的相关优势。

在这次研讨会上,来自 NanoMEGAS 的 Joaquim Portillo 博士与大家分享了扫描前序电子衍射 (SPED) 技术的最新进展。

再次观看我们的网络研讨会 "非编程人员的 FIB-SEM 自动化指南",了解如何使用 TESCAN 的 SEM/FIB-SEM Expert PI 软件轻松简化显微镜工作流程。

欢迎参加 TESCAN 的网络研讨会,了解 TESCAN AMBER 2 在精密纳米原型制作方面的先进功能。

TESCAN AMBER 2 和 TESCAN AMBER X2 系统在 TEM 样品制备方面取得了最新进展,欢迎参加 TESCAN 的精彩网络研讨会。

欢迎参加 TESCAN 网络研讨会,了解 TESCAN AMBER X 2 在三维多模态表征方面取得的突破性进展。

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