TESCAN 推出 AMBER X 2 和 AMBER 2，与我们一起探索 FIB-SEM 技术的革命性进步。
与我们一起探索随着TESCAN AMBER X 2和TESCAN AMBER 2 的推出， FIB-SEM 技术所取得的革命性进步。在此重新观看我们的网络研讨会，了解这些尖端系统如何将您的材料分析和 TEM 样品制备提升到新的高度。
本网络研讨会将深入探讨TESCAN FIB-SEM 技术的最新创新，重点介绍TESCAN AMBER X 2和TESCAN AMBER 2系统所提供的更高的速度、精度和多功能性。
会议内容包括 TESCAN 十年的 FIB-SEM开发、Mistral™ 等离子 FIB 的独特优势以及从大规模表征到自动TEM样品制备的实际应用。
演讲人介绍
TESCAN 产品营销经理Martin Sláma 在 FIB-SEM 3D 表征和 TEM 薄片制备方面拥有超过 8 年的专业经验，他将就新一代 FIB-SEM 展开深入讨论。
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