网络研讨会：使用 TESCAN AMBER 2 进行精密纳米原型制作

欢迎参加 TESCAN 的网络研讨会，了解 TESCAN AMBER 2 在精密纳米原型制作方面的先进功能。

再次观看我们的会议 ，了解这款多功能FIB-SEM 系统如何通过简化的工作流程和全面的分析功能，帮助快速开发新型器件。  

本网络研讨会展示了TESCAN AMBER 2 的创新功能，重点介绍了其在纳米原型任务中减少停机时间和提高生产率的集成设计。了解该系统的无漏磁超高分辨率SEM 镜筒 和高分辨 FIB如何实现多功能样品制备，包括电子束曝光 (EBL)、聚焦离子束 (FIB)铣削和沉积等任务。 

会议还探讨了TESCAN AMBER 2在创建尖端设备方面的实际应用，如等离子体和磁光天线、电接触、 形状定制的二维材料和功能表面。此外，您还将看到该系统无与伦比的 超高分辨 (UHR) 成像能力如何在同一平台上进行全面分析。 

演讲人介绍 

Milos Hrabovsky 是 TESCAN 的纳米原型产品市场经理，在电子和离子束绘图、沉积、增强蚀刻和显微镜自动化方面拥有深厚的专业知识，他将指导您了解 AMBER 2 在加速设备开发方面的基本功能和实际应用。 

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