厌倦了与大样本分析的局限性作斗争？ 我们明白。传统 Ga+ FIB-SEM 的铣削率不足以应对当今材料科学领域的挑战。但是，如果您能在几毫米厚的岩石上获得纳米分辨率的洞察力呢？
欢迎参加我们即将举行的网络研讨会，我们将为您揭开创新 Xe PFIB/SEM 技术的神秘面纱，了解它在毫米尺度分析中的强大功能。
网络研讨会标题： "页岩的大规模 Xe PFIB/SEM 分析：几毫米岩石的纳米分辨率"
日期和时间 6 月 13 日第欧洲中部时间 2024 年上午 9 时和下午 5 时
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等待您的是什么？
- 破解页岩复杂性的密码： 我们将揭示分析这种错综复杂的异质岩石所面临的挑战，以及传统 Ga+ FIB-SEM 的不足之处。
- 认识您的新英雄 氙等离子 FIB：了解这种创新技术如何在极短的时间内去除大量材料，为您提供所需的自由度。
- 掌握页岩预处理技术：深入探究制作毫米级横截面的秘密，征服特定地点的岩石分析。
当将结果与传统抛光样品进行比较时，Xe PFIB/SEM 的威力立即显现出来。我们热忱邀请您参加这次现场演示，了解这些技术如何塑造材料科学、制造业和地质学的未来。
向Annalena Wolff（AXT Pty Ltd，悉尼，AUT）学习。
千万不要错过提升研究能力的机会。立即报名，与我们一起踏上激动人心的旅程