揭开 TESCAN Amber X 2 的神秘面纱：由 TESCAN 和 WAS 共同举办的四部分网络研讨会系列

TESCAN 非常高兴地宣布将举办四场内容丰富的系列网络研讨会，探讨材料分析技术的最新进展。这些在线活动是与 Wiley Analytical Science (WAS) 合作举办的，将展示我们最新的 FIB-SEM 系统、等离子 FIB-SEM AMBER X 2 和 Ga FIB-SEM AMBER 2 的功能。

查看议程，了解这些工具如何在您的研发工作流程中提高速度、精度和实用性。

8月20日^{2024 年 8 月 20 日}2024
介绍 AMBER X 2 和 AMBER 2：

见证TESCAN 推出 AMBER X 2 和 AMBER 2 的创新成果。本网络研讨会包括

FIB-SEM 创新十年：TESCAN 的 FIB-SEM 发展历程。
Mistral™ 等离子 FIB 的威力： AMBER X 2 如何缩小精度与产量之间的差距。
实际应用：AMBER X 2 和 AMBER 2 在各种研究应用中的多功能性和效率。

主持人：Martin Sláma，TESCAN 产品营销经理，在材料科学领域的 FIB-SEM 3D 表征和 TEM 薄片制备方面拥有超过 8 年的经验。

本次网络研讨会是与 Wiley Analytical Science 合作的一部分。请在其网站上查看所有详细信息和注册链接：在此注册
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八月二十二日^日, 2024
重新定义的 FIB-SEM。使用 AMBER X 2 体验三维多模态表征的速度、精度和实用性

利用 TESCAN AMBER X 2 等离子 FIB-SEM 掌握三维多模态表征技术。本网络研讨会将探讨

速度与精度： AMBER X 2 如何平衡数据质量和数量。
优化 FIB-SEM 断层成像：以最小伪影实现更快分析的策略
实际应用： 使用 AMBER X 2 研究各种材料。

主持人：Tomáš ŠamořilTomáš Šamořil 是 TESCAN 公司的产品营销经理，拥有物理和材料工程博士背景以及丰富的应用专家经验。

九月三日^日, 2024
新一代 TESCAN TEM 片剂自动化 TEM AutoPrep Pro™：利用 AMBER 2 和 AMBER X 2 提高标本制备的速度和实用性

利用 TESCAN 的 AMBER 2 和 AMBER X 2 系统探索 TEM 样品制备的未来。本次网络研讨会的重点是

高通量 TEM 制备：AMBER 2 和 AMBER X 2 如何满足高通量、一致的样品制备需求。
自动化工作流程： 配备 AMBER X 2 的 TEM AutoPrep Pro™。
精确的薄片几何形状： AMBER X 2 中 OptiLift™ 纳米机械手的功能。

主持人：Martin Sláma，TESCAN 产品营销经理，在材料科学领域的 FIB-SEM 3D 表征和 TEM 薄片制备方面拥有超过 8 年的经验。

本次网络研讨会是与 Wiley Analytical Science 合作的一部分。请在其网站上查看所有详细信息和注册链接：在此注册
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2024^年9 月^{5 日}
使用 TESCAN AMBER 2 进行纳米原型设计的实用性和精确性：您快速开发新型器件的途径

利用 TESCAN AMBER 2 释放快速设备开发的潜力。本网络研讨会将深入探讨

简化工作流程： AMBER 2 的设计如何最大限度地减少停机时间并提高效率。
多功能样品制备：AMBER 2 可完成各种纳米原型任务。
综合分析：深入了解 AMBER 2 的超高分辨成像能力。

主持人：Milos Hrabovsky，TESCAN 公司纳米原型产品营销经理，专门从事电子和离子束图形化、沉积、增强蚀刻以及通过脚本实现显微镜自动化。

揭开 TESCAN Amber X 2 的神秘面纱：由 TESCAN 和 WAS 共同举办的四部分网络研讨会系列

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