网络研讨会：通过使用大电流等离子体 FIB-SEM 在样品特征描述中获得最大通量和无伪影表面

受热捧：通过 TESCAN 专家指导的网络研讨会深入了解材料科学

由于需求增加，我们非常高兴地宣布，等离子体 FIB-SEM 样品表征网络研讨会将再次举办，现在还有机会进行现场互动。加入我们的行列，以全新的视角探讨去年吸引了众多听众的主题，包括现场开场白和引人入胜的问答环节。

网络研讨会标题： 使用大电流等离子体 FIB-SEM 在样品特征描述中获得最大通量和无伪影表面

演讲者 马丁-斯拉马

日期和时间6月4日^日上午 9 时欧洲中部时间下午 5 点

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探索 FIB-SEM 的前沿技术

我们的网络研讨会将深入探讨使用等离子 FIB-SEM 进行材料分析的先进方法。本讲座旨在加深您对样品制备和表征的理解，为在不牺牲质量的前提下最大限度地提高效率提供真知灼见。主要收获包括

• 材料去除效率：了解大电流离子束如何加快大型样品的制备。

• 强化表面 抛光： 探索大面积表面抛光技术，揭示材料结构的复杂细节。

• 高级分析： 了解如何利用等离子 FIB-SEM 将微米级和纳米级特性分析联系起来。

• 技术创新： 了解 TESCAN 的 TRUE X-Sectioning 和 Rocking Stage 技术，最大限度地减少人工痕迹。

• 改进三维断层扫描： 了解这些方法如何增强三维 FIB-SEM 断层成像，从而更好地了解材料特性。

主持人 Martin Sláma 是 TESCAN ORSAY HOLDING 的产品营销经理，在材料和生命科学领域拥有超过八年的专业经验。他对 FIB-SEM 技术的复杂性有着深刻的理解，并致力于推动材料表征技术的发展，是本次研讨会的杰出指导者。

您为何应该参加

参加本次网络研讨会的人员将获得宝贵的见解，了解如何在各种科学和工业应用中优化 FIB-SEM 的使用。无论您是经验丰富的专业人士，还是刚进入该领域的新手，都将对如何应用这些技术实现无伪影表面和详细的样品分析有更深入的了解。 

这节课不仅是学习新技能，更是提升我们对材料特性的理解。

准备好提升您的专业知识了吗？

不要错过这次与我们的材料表征技术专家 Martin Sláma 直接交流的难得机会。立即注册，确保您参加此次独家网络研讨会。 

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