在 EMC 2024 展会上体验 TESCAN 的创新技术
TESCAN 很高兴地宣布，我们将参加 8 月 25 日至 8 月 30 日在丹麦哥本哈根举行的 2024 年欧洲显微镜大会 (EMC)。这一享有盛誉的盛会是显微镜和显微分析专家的盛会，我们很高兴能展示我们的最新进展，尤其是 TESCAN AMBER X 2 的推出。
在我们的展位 #B9 探索 TESCAN AMBER X 2
欢迎莅临我们的展台 #B9，了解 TESCAN AMBER X 2 - 我们的突破性等离子 FIB-SEM 系统，该系统旨在为材料科学设立新标准。了解该系统如何重新定义全面样品制备和表征的速度、精度和多功能性。与开发人员会面，观看这一尖端技术的现场演示。
TESCAN AMBER X 2 的主要功能
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增强型等离子 FIB 柱：通过优化的光束参数实现卓越的轮廓。
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无漏磁扫描电镜镜筒：高分辨率成像，不受浸没式光学系统的限制。
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多模态和多尺度分析：用于详细元素成分分析的独特 3D 方法。
了解我们的专家和创新
我们的专家团队将在展台上回答您的问题，并与您探讨我们的解决方案如何增强您的研发工作流程。除了 TESCAN AMBER X 2，您还可以了解 TESCAN CLARA、TESCAN TENSOR、TESCAN UNITOM HR 和其他 TESCAN micro-CT 系统。
商业演示
参加我们的商业演示，深入了解我们的最新产品和创新。前 100 名参观者将获得午餐包：
午餐公司研讨会
标题： TESCAN AMBER 2 和 TESCAN AMBER X 2TESCAN AMBER 2 和 TESCAN AMBER X 2：新一代 FIB-SEM 快速、实用、精确
地点第 2 演講廳
日期和时间：2024 年 8 月 26 日星期一 12:45 - 13:15
演讲者马丁-斯拉马
Flash 演示
标题 用于材料研究的先进 TEM 样品制备技术
地点第 3 演講廳
日期和时间：2024 年 8 月 28 日星期三 12:45 - 13:05
演讲者马丁-斯拉马
科学报告
千万不要错过我们团队在大会期间做出的科学贡献。参加这些会议可获得新的见解并了解最新进展：
无标记特征定位的低温工作流程
日期和时间：2024 年 8 月 29 日星期四 10:30 - 12:30
地点第 4 演講廳
演讲者Martina Zánová
博物馆标本中的高光谱 CT
日期和时间：2024 年 8 月 27 日星期二 10:30 - 12:30
地点第 3 演講廳
演讲者亨利克-劳里森
海报展示
我们的团队将在两场海报展示会上发表演讲，分享最新的显微镜技术进展：
ExpertPI：自动化 4D-STEM 多模态分析
演讲者丹尼尔-奈梅切克
FIB-SEM 和 ToF-SIMS 集成用于锂离子电池分析
演讲者Tomáš Šamořil
预约演示
千万不要错过亲身体验 TESCAN AMBER X 2 的机会。请在 EMC 2024 期间在我们的展台预约演示，并在会后参观我们位于沃伦代尔和布尔诺的实验室，了解更多演示信息。欢迎您莅临我们的展位 #B9，让我们一起探索显微镜的未来！