TESCAN 推出 AMBER X 2：材料科学的突破性进展

TESCAN 很荣幸地宣布推出我们在材料分析技术领域的最新创新产品：TESCAN AMBER X 2。

这款尖端的等离子 FIB-SEM 系统将为材料科学研究树立新的标准，为全面的样品制备和表征提供无与伦比的分辨率、通量和多功能性。

AMBER X 2 的主要特点

• 增强型等离子 FIB 镜筒： AMBER X 2 优化了离子束参数，以获得出色的轮廓，简化了工作流程，提高了分辨率、导航和打磨性能。
  

• 无漏磁扫描电镜镜筒：该功能可对各种材料进行高分辨率成像，消除了浸没式光学系统的局限性，具有宽视场和各种扫描模式。
  

• 多模态和多尺度分析： AMBER X 2 支持独特的三维方法，如用于详细元素组成分析的实时三维 ToF-SIMS，这对下一代电池研究至关重要。

启动网络研讨会和活动

为展示 AMBER X 2 的功能，TESCAN 将与 Wiley Analytical Science 合作举办一系列内容丰富的网络研讨会。这些在线活动将全面介绍 TESCAN AMBER X 2 如何增强您的研发工作流程。

8 月 20日, 2024

介绍 AMBER X 2 和 AMBER 2：新一代 FIB-SEM 快速、实用、精确

见证 TESCAN 推出 AMBER X 2 和 AMBER 2 的创新成果。本次网络研讨会的内容包括

• FIB-SEM 创新十年：TESCAN 的 FIB-SEM 发展历程。
  

• Mistral™ 等离子 FIB 的威力： AMBER X 2 如何缩小精度与产量之间的差距。
  

• 实际应用：AMBER X 2 和 AMBER 2 在各种研究应用中的多功能性和效率。

主持人：Martin Sláma，TESCAN 产品营销经理，在材料科学领域的 FIB-SEM 3D 表征和 TEM 薄片制备方面拥有超过 8 年的经验。

本网络研讨会是与 Wiley Analytical Science 合作的一部分。所有详细信息和注册链接 注册链接.

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八月二十二日^{nd，2024 FIB-SEM，重新定义。}2024
重新定义的FIB-SEM。使用 AMBER X 2 体验三维多模态表征的速度、精度和实用性

使用 TESCAN AMBER X 2 等离子 FIB-SEM 掌握三维多模态表征的艺术。本网络研讨会将探讨

• 速度与精度： AMBER X 2 如何平衡数据质量和数量。
  

• 优化 FIB-SEM 断层成像：以最小伪影实现更快分析的策略
  

• 实际应用： 使用 AMBER X 2 研究各种材料。

主持人：Tomáš ŠamořilTomáš Šamořil 是 TESCAN 公司的产品营销经理，拥有物理和材料工程博士背景以及丰富的应用专家经验。

本网络研讨会是与 Wiley Analytical Science 合作的一部分。所有详细信息和注册链接 注册链接.

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九月三日^日期, 2024
新一代 TESCAN TEM 片剂自动化 TEM AutoPrep Pro™：使用 AMBER 2 和 AMBER X 2 提高试样制备的速度和实用性

利用 TESCAN 的 AMBER 2 和 AMBER X 2 系统探索 TEM 样品制备的未来。本次网络研讨会的重点是

• 高通量 TEM 制备：AMBER 2 和 AMBER X 2 如何满足高通量、一致的样品制备需求。
  

• 自动化工作流程： 配备 AMBER X 2 的 TEM AutoPrep Pro™。
  

• 精确的薄片几何形状： AMBER X 2 中 OptiLift™ 纳米机械手的功能。

主持人：Martin Sláma，TESCAN 产品营销经理，在材料科学领域的 FIB-SEM 3D 表征和 TEM 薄片制备方面拥有超过 8 年的经验。

本网络研讨会是与 Wiley Analytical Science 合作的一部分。所有详细信息和注册链接 注册链接.

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2024^年 9 月^{5 日}
利用 TESCAN AMBER 2 实现纳米原型的实用性和精确性：您快速开发新型设备的通道

利用 TESCAN AMBER 2 释放快速设备开发的潜力。本网络研讨会将深入探讨

• 简化工作流程： AMBER 2 的设计如何最大限度地减少停机时间并提高效率。
  

• 多功能样品制备：AMBER 2 可完成各种纳米原型任务。
  

• 综合分析：深入了解 AMBER 2 的超高分辨成像能力。

主持人：Milos Hrabovsky，TESCAN 公司纳米原型产品营销经理，专门从事电子和离子束图形化、沉积、增强蚀刻以及通过脚本实现显微镜自动化。

本网络研讨会是与 Wiley Analytical Science 合作的一部分。所有详细信息和注册链接 注册链接.

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参加官方发布活动

TESCAN AMBER X 2 的正式发布活动将于 8 月 25 日在哥本哈根 EMC 会议期间举行，地点在 TESCAN 展位（B9 号）。我们邀请所有与会者加入我们，与开发人员会面，并探索 TESCAN AMBER X 2 的全部功能。请不要忘记在此预约演示。

活动结束后，我们将在位于美国沃伦代尔和捷克布尔诺的实验室演示全新的 AMBER X 2，请不要错过向我们的代表咨询演示的机会。