半导体分析的开创性进展
通过我们的网络研讨会对半导体技术有新的认识。了解TESCAN SOLARIS X 专为改善您的分析工作流程而设计的先进功能。
本讲座介绍TESCAN SOLARIS X 的先进功能，强调其在不受Ga+ 离子照射负面影响的情况下进行快速、大面积切片和样品制备的能力。详细介绍了等离子 FIB-SEM 技术的应用，重点是检查和提高半导体材料及其性能。
关键主题包括集成高分辨率端点技术，这对了解材料行为和支持开发更高效、更高性能的半导体技术至关重要。
演讲人介绍
卢卡斯-赫拉迪克TESCAN 集团产品营销经理，是半导体技术和分析方面的专家，为半导体研究和开发带来了丰富的知识。
观看录像，了解克服半导体样品分析挑战的宝贵见解，并提高您对 TESCAN SOLARIS X 的技术知识。