TESCAN摇摆样品台的主要优点
固定角度抛光与摇动抛光。摇摆式抛光能有效地去除帘幕效应。
消除帘幕效应
消除FIB加工导致的帘幕效应，改善成像效果。无论是由偏好切割速度、表面形貌，或是内部样品几何形状引起的伪影皆可消除。
指尖上的精准
在整个切割和摇摆过程中，SEM的实时监测，精准定位你感兴趣区域的端点。
提高您的样品制备效率
TESCAN摇摆台设置向导自动化操控摇摆程序和位置，最大限度地提高产量。
适应复杂的样品
通过无伪影的FIB横断面和横断面抛光，为半导体器件和先进材料的失效分析，提高最终样品质量。
多功能性与兼容性的结合
新设计将样品交换仓、电子束减速模式（BDM）和STEM检测器相互配合、互不冲突，毫不牺牲系统多功能。
TESCAN摇摆样品台的先进应用
掌握失效分析的技艺
用TESCAN摇摆样品台做出的无伪影FIB断面，在半导体器件和先进材料失效分析时，大大提高了最终样品质量。
完善您的断层扫描
TESCAN摇动样品台，级大限度地减少帘幕效应，实现原始成像结果，增强FIB-SEM断层扫描采集能力。
轻松处理大型和扁平样品
TESCAN摇摆样品台的多功能设计，能满足您各色样品的研究，助您管理大量的样品。