重新定义等离子体 FIB-SEM
TESCAN AMBER X 2 结合了原始的 FIB 分辨率、出色的离子束参数和无漏磁扫描电镜镜筒，重新定义了样品制备和表征的速度、精度和好用度。
我们最先进的等离子 FIB-SEM AMBER X 2
TESCAN AMBER X 2 是最先进的等离子 FIB-SEM 仪器。作为材料科学研究的整体解决方案，它能制备高质量的 TEM 样品，分析二维和三维材料的结构和化学性质，并以无与伦比的速度和精度提供相关的多模态分析信息。
凭借其独特的无漏磁扫描电镜镜筒和最新的 Mistral™ 等离子 FIB 镜筒，AMBER X 2 成为市场上适应性最强、最灵活、最方便用户使用的等离子 FIB-SEM 仪器。
TESCAN AMBER X 2 如何增强您的研究能力
自动 TEM 薄片制备
制备高质量的 TEM 样品，将非晶化损伤降到最低，实现零金属离子植入。
快速、精确的 FIB-SEM 分析
以有史以来最高的通量表征材料表面与亚表面。
新颖的 3D 多模态视角
利用三维 ToF-SIMS、三维 EBSD 和三维 EDS 揭示材料的结构和化学性质。
高级对比方法
提高表面灵敏度和不同相位的检测能力。
用户友好性
无需成为 FIB SEM 专家即可获得高质量数据。
卓越兼容性样本
无缝表征所有类型的样品，包括 Ga+ 敏感材料与磁敏感材料。
材料理解的新维度
TESCAN AMBER X 2 超越了传统的分析方法，为您提供了一个通往全新三维世界的门户，让您深入了解样品的形态、成分、结晶学和化学性质。结合 EDS、EBSD 和 ToF-SIMS 数据的强大功能，以令人惊叹的三维细节揭示材料中隐藏的秘密。
无上细节 无限探索
TESCAN AMBER X 2 可以让您比以往任何时候都更深入地了解材料的核心。在金属、陶瓷、聚合物甚至生物材料等各种材料中，探索最精细的细节，发现以前未曾发现的特征和对比。具有能量过滤功能的无漏磁 BrightBeam™ 技术可让您利用低着陆能量对样品进行成像，使其异常清晰且损伤最小，从而获得最佳效果。
这种组合使您能够突破研究界限，在各个领域取得新的发现。
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