TESCAN TENSOR
扫描透射电子显微镜
分析型 4D-STEM 技术解析
更全面的获取电子束与样品相互作用的全部信息
应用
纳米级多模态 4D-STEM 表征各种材料的应用案例
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在德国于利希(Jülich)恩斯特-鲁斯卡研究中心(Ernst-Ruska)和英国利兹大学(Leeds)的
公测合作伙伴密切合作开发的新应用案例。
4D-STEM 晶体取向分析揭示了镍基超合金的形变行为
本应用案例聚焦于维氏硬度压痕在镍基超合金中引起的塑性形变。我们采用了带有自动晶体取向分析功能的4D-STEM技术,对聚焦离子束(FIB)特定区域制备的样品进行了分析。这项分析专注于形变过程中纳米级晶粒的重新取向。
快速采集和即时处理使测量得以优化,并以近乎实时的迭代方式对样品区域进行定位,从而大大提高了测量和显微镜的时间效率。本应用案例是与中国西安交通大学材料力学行为国家重点实验室的 Lin Sicong 和 Chen Kai 教授以及德国于利希恩斯特-鲁斯卡电子显微镜和能谱中心的 Lu Penghan 和 Rafal E. Dunin-Borkowski 教授合作编写的。
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TESCAN TENSOR 还具有卓越的性能,从0到1的系统设计理念贯穿首末,即使是没有经过深入培训和缺乏(扫描)透射电子显微镜操作经验的新用户也能快速上手。了解更多,请点击下方链接。
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