具有集成平台、旋进辅助功能的分析型 4D-STEM 介绍

本研讨会将展示全球首款集成式旋进辅助分析型4D-STEM系统——TESCAN TENSOR。

您将了解其应用领域、专为4D-STEM设计的创新性能，以及如何通过系统自动化与TEM用户专长相结合，带来革新性的STEM用户体验。

演讲者简介

Robert Stroud，机械工程与材料科学与工程学位持有者。加入TESCAN美国前，负责NanoMEGAS产品在北美和南美的市场销售，并处理AppFive产品的OEM销售。此前，曾在FEI、Cameca等公司担任产品开发、销售和管理等职。

旋进辅助分析型 4D-STEM 在先进材料表征中的应用

本次网络研讨会将展示TESCAN TENSOR在分析显微镜观察中的几个应用案例，介绍如何通过快速电子旋进、充分集成的直接电子探测器、大型固体角EDX探测器和自动化数据处理高效表征复杂材料。

演讲者简介

Rob Hooley，TESCAN Brno 的TEM研发应用工程师。他在英国利兹大学完成了关于辐射敏感纳米材料的低剂量STEM表征的博士研究，并在2020年初加入TESCAN。

4D-STEM 性能分析新标准

本次网络研讨会将探讨现代4D-STEM仪器的核心技术理念、分析功能的集成，以及电子光学系统中各组件的同步，以最大化发挥从0到1设计出发的4D-STEM性能。我们还将讨论系统的关键集成部件、设计决策，以及这些因素如何影响STEM、4D-STEM和断层扫描的分析速度、数据质量和用户便利性。

演讲者简介

Petr Mareš，TESCAN TENSOR产品经理，持有捷克布尔诺理工大学工程物理和表面科学学位。他主导了TESCAN TENSOR探测器组件的开发与集成。

STEM 创新用户体验

本次网络研讨会将深入探讨 TESCAN TENSOR 的易操作特点，以及 JK Weiss 领导的TESCAN Tempe 团队如何利用系统自动化和TEM用户经验的专业知识来塑造STEM用户体验。我们的目标是打造一款人人皆可拍出高质量结果的STEM仪器。

演讲者简介

Jon Karl (JK) Weiss，TESCAN Tempe 研发团队的总经理和负责人。他在TEM自动化和软件开发领域拥有深厚的背景，始于90年代在Emispec的工作经历，并在AppFive（现TESCAN Tempe）继续发展。多年来，他还积累了丰富的(S)TEM分析技术（如电子旋进衍射）和4D-STEM测量（如应力和电子能量损失谱EELS）的专业应用知识。