TESCAN TENSOR
扫描透射电子显微镜

像操作扫描电镜一样容易

的一台扫描透射显微镜

 

 

新一代 TEM 透射电镜用户体验

资产 4

 
    易操作

 

简单 · 快速 · 直观的操作体验 

 

传统理解上,操作透射电子显微镜总是要从冗长的光路调试和校准开始,每次都要设置测量光学特性,然后才能拍摄数据。

TESCAN TENSOR 则不必如此。每次测量时,系统都会自动为您调试和校准光路。您可以立即采集样品数据。 

这种新颖的扫描透射电镜操作方法是专业的系统自动化和用户体验设计相结合的结果,这两种能力已经在实际使用中得到很好的体现,比如在 TESCAN 布尔诺研发团队、JK Weiss 和他在 TESCAN Tempe 的研发团队。

点击此处了解更多 TENSOR 的设计理念

TESCAN TENSOR 让您专注于拍摄样品,而非光路调式。


通过重塑用户体验和将无产出的操作自动化,TESCAN TENSOR 提高了生产率和潜在利用率,从而实现了投资回报。 

高度自动化仪器设置例程示例

简单、快速的感兴趣区域筛查和选择。

 

从高达 2x2mm 的大型数字概览图像中快速筛查和选择感兴趣区域 (ROI)。通过在每个工作阶段之初自动批量获取图像,不仅无需改变显微镜亮度模式,即使在低放大倍率下的 STEM 成像,也可获得同类产品中较好的广阔视野。这样做的好处是,由于只获取一次概览图像,样品不会因为工作阶段内的导航操作而暴露在不必要的电子剂量下。

自如快速切换旋进的“开”和“关”。



在切换测量项目时,光学参数会自动调整,包括例如束流电流、束流会聚角和相机长度。用户无需接受特别培训即可操作那些通常较为复杂的镜筒调整和校准步骤,从而可以将更多时间用于与样品的互动,而非光学系统的调整。其他设置,如电子束旋进,可以轻松地开启或关闭。得益于高旋进频率,用户只需输入旋进角度等参数,并微调旋进支点,即可实现设置的切换。

对齐特定晶带轴



自动化功能将进一步在测量过程中协助用户处理复杂步骤,例如在测量应力或拍摄缺陷图像(如层错和位错)时,需要倾斜样品以对齐用户选定的特定晶带轴

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TESCAN TENSOR 系统还集成了多种 STEM、4D-STEM 和断层扫描测量功能,性能出众。请点击以下任意链接进行了解。

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