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100 kV 下 TESCAN TENSOR 对厚密样品的 4D-STEM 分析

我们的最新技术报告探讨了现代 STEM 仪器对较厚试样进行成像和分析的能力。与我们一起揭示试样厚度对在 100 kV 下灵敏直接电子显微镜采集的数据质量的影响。

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