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FIB-SEM 网络研讨会 matsci 邀请 TEM 样品制备

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FIB-SEM 网络研讨会 TEM 试样制备

🔬经证实具有领先地位：利用 TESCAN AMBER X 2 等离子 FIB-SEM 扩展 TEM 样品制备范围

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完美的样品制备：利用 AMBER 2 和完全集成 FIB-SEM 的 Aura™ 柔和离子束，实现可重复的超薄 TEM 薄片

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智能铣削从这里开始：了解 TESCAN OptiGIS O2

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FIB-SEMs：原子探针断层扫描 (APT) 精确度的关键工具

改变原子探针断层扫描游戏规则的 FIB-SEM

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TESCAN 生命科学研究解决方案

TESCAN 公司的 Kathrin Rudolph 博士展示了该公司通过灵活的显微镜解决方案应对生命科学研究挑战的方法。

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用于 S/TEM 分析的试样制备工作流程的进展

来自 TESCAN 集团的 Lucille A. Giannuzzi 介绍了 TESCAN 在硬件、软件和自动化工作流程方面的最新创新成果，这些创新成果可用于制备电子透明试样以进行 S/TEM 分析。

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Daniel Nemecek - 利用前序辅助电子衍射进行快速直观的材料表征
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利用前驱辅助电子衍射技术快速直观地表征材料特性

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FIB-SEM 网络研讨会

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网络研讨会：非编程人员的 FIB-SEM 自动化指南
FIB-SEM 闳康科技股份有限公司

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再次观看我们的网络研讨会 "非编程人员的 FIB-SEM 自动化指南"，了解如何使用 TESCAN 的 SEM/FIB-SEM Expert PI 软件轻松简化显微镜工作流程。

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